韩锴,教授,物理与电子信息学院副院长,入选潍坊学院杰出青年计划人才。一直从事集成电路器件相关的材料、工艺及集成技术研究,主持国家自然科学基金项目、山东省自然科学基金和潍坊市科技发展计划项目各1项,主持横向合作课题11项,参与国家自然科学基金项目4项;发表论文50余篇,其中以第一/通讯作者发表SCI、EI期刊论文20篇,授权发明专利6项。
招生专业:电子信息
研究方向:集成电路器件与工艺
联系方式:hankai@wfu.edu.cn
学术成果:
1、代表性学术论文
1)Impact of Saturated Spontaneous Polarization on the Endurance Fatigue of Si FeFET With Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Gate Structure, IEEE Transactions on Electron Devices, 2023, 70(8): 4055-4061
2)A Physics-Based Model of Charge Trapping Behavior of Si FeFET With Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Structure, IEEE Transactions on Electron Devices,2023, 70(9): 4641-4646
3)Impact of Charges at Ferroelectric/Interlayer Interface on Depolarization Field of Ferroelectric FET With