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韩锴

发布时间:2025-03-25

 


韩锴,教授,物理与电子信息学院副院长,入选潍坊学院杰出青年计划人才。一直从事集成电路器件相关的材料、工艺及集成技术研究,主持国家自然科学基金项目、山东省自然科学基金和潍坊市科技发展计划项目各1项,主持横向合作课题11项,参与国家自然科学基金项目4项;发表论文50余篇,其中以第一/通讯作者发表SCI、EI期刊论文20篇,授权发明专利6项。

招生专业:电子信息

研究方向:集成电路器件与工艺

联系方式:hankai@wfu.edu.cn

学术成果:

1、代表性学术论文

1Impact of Saturated Spontaneous Polarization on the Endurance Fatigue of Si FeFET With Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Gate Structure, IEEE Transactions on Electron Devices, 2023, 70(8): 4055-4061

2A Physics-Based Model of Charge Trapping Behavior of Si FeFET With Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Structure, IEEE Transactions on Electron Devices,2023, 70(9): 4641-4646

3Impact of Charges at Ferroelectric/Interlayer Interface on Depolarization Field of Ferroelectric FET With

Metal/Ferroelectric/Interlayer/Si Gate-Stack, IEEE Transactions on Electron Devices, 2020,67(10): 4500-4506

4Experimental Investigation of Remote Coulomb

Scattering on Mobility Degradation of Ge pMOSFET by Various PDA Ambiences, IEEE Transactions on Electron Devices, 201966(4): 1669-1674

2、专著

3、主要授权专利

科研项目及获奖:

[1]2023.01-2025.12:山东省自然科学基金委员会面上项目,ZR2022MF313,铪基铁电晶体管疲劳特性提升方法的研究,在研,项目负责人

[2] 2015.01-2017.12: 国家自然基金委员会青年项目,高k材料的表面态及内部电荷对SiC MOS器件中高k/SiC能带结构的影响的基础研究,结题,项目负责人

[3] 2017.01-2020.12:国家自然基金委员会面上项目,Ge基MOS器件迁移率的远程库伦散射机制的研究,结题,参与

[4] 获奖:潍坊市自然科学奖三等奖,Ge基MOS器件迁移率的远程库伦散射机制的研究,位次1


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